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- 傳感器+機(jī)器學(xué)習(xí)，節(jié)省測(cè)試時(shí)間和成本
- 來(lái)源：電子工程世界 發(fā)表于 2020/4/8
翻譯自——semiengineering
傳感器的大規(guī)模應(yīng)用和機(jī)器學(xué)習(xí)的發(fā)展讓集中測(cè)試在一些影響力較大的領(lǐng)域成為了可能。
機(jī)器學(xué)習(xí)和集成電路制造設(shè)備中結(jié)合了更多的傳感器，這為晶圓廠(chǎng)和封測(cè)代工廠(chǎng)對(duì)于針對(duì)性測(cè)試和更快吞吐量創(chuàng)造了新的可能性。
這種做法的目的是為了提高質(zhì)量，降低制造復(fù)雜芯片的成本。在最先進(jìn)的節(jié)點(diǎn)上，制造復(fù)雜芯片所需的時(shí)間正在增加。隨著晶體管數(shù)量的增加，更多的芯片被添加到電路板或封裝中，這導(dǎo)致了需要更多的時(shí)間去測(cè)試這些器件，也增加了總體成本，如果測(cè)試時(shí)間保持不變，就會(huì)降低被測(cè)設(shè)備在其生命周期內(nèi)的可靠性。
所以，我們有必要區(qū)分哪些設(shè)備確實(shí)需要徹底測(cè)試，哪些設(shè)備已經(jīng)在硅材料中得到了充分的驗(yàn)證。這相當(dāng)于對(duì)一個(gè)測(cè)試套件進(jìn)行修剪，但是這個(gè)需要收集足夠有用的數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行調(diào)用。在過(guò)去這很難做到，但是隨著更多傳感器的參與，生成了更多的數(shù)據(jù)，我們就可以更細(xì)致的查看數(shù)據(jù)并從中進(jìn)行有效識(shí)別模式。
PDF solutions公司表征解決方案副總裁Dennis Ciplickas說(shuō)：“如果能建立一個(gè)準(zhǔn)確率達(dá)到99．99％的模型來(lái)預(yù)測(cè)芯片何時(shí)會(huì)老化，那么你就可以跳過(guò)芯片老化的過(guò)程，從而節(jié)省成本�！�
不管你設(shè)定的比例是多少，20％、30％或50％的跳躍率都可以，這將節(jié)省老化成本。而且數(shù)據(jù)越多，預(yù)測(cè)就越準(zhǔn)確。
困難在于如何連接正確的數(shù)據(jù)來(lái)實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)。所以如果你所有的數(shù)據(jù)都在封測(cè)代工廠(chǎng)上運(yùn)行，從晶圓排序、組裝，到最后的測(cè)試都在那里，你就可以整合所有的數(shù)據(jù)并從中做出預(yù)測(cè)。但如果你在不同的地方進(jìn)行的這些工序，那就必須從多個(gè)地點(diǎn)合并數(shù)據(jù)，這就需要一個(gè)系統(tǒng)來(lái)做到這一點(diǎn)。”
老化測(cè)試用于檢測(cè)芯片中各種元件的早期故障。在過(guò)去，這類(lèi)數(shù)據(jù)是通過(guò)數(shù)據(jù)交換共享的，雖然有用，但還不足以消除測(cè)試。
Ciplickas說(shuō)：“最初，數(shù)據(jù)交換網(wǎng)絡(luò)背后的初衷是建立一個(gè)數(shù)據(jù)庫(kù)，這樣你就可以看到你的供應(yīng)鏈�！薄皺C(jī)器學(xué)習(xí)現(xiàn)在可以讓你把許多不同的功能放在一起，來(lái)做一些新的事情，比如預(yù)測(cè)�！彼酝ㄟ^(guò)從傳感器獲得的數(shù)據(jù)，就可以控制老化成本。下一個(gè)步驟是使數(shù)據(jù)能夠以連貫、連接的方式一起流經(jīng)不同的站點(diǎn)，通過(guò)這些來(lái)進(jìn)行預(yù)測(cè)�！�
實(shí)際上，這就是一種將全流程的各種組件描述的更加精細(xì)，并精確地消除不必要的測(cè)試。
OptimalPlus副總裁兼總經(jīng)理Doug Elder表示： “現(xiàn)在，你可以在進(jìn)行晶圓排序和最終測(cè)試的豎井中連接所有數(shù)據(jù)源，以確定故障來(lái)自何處。你可以減少你的測(cè)試集和疑似老化的區(qū)域，你也可以運(yùn)行機(jī)器學(xué)習(xí)算法來(lái)修復(fù)測(cè)試和改進(jìn)你的方法�！�
在過(guò)去，在現(xiàn)場(chǎng)實(shí)施之后，可能需要幾個(gè)月或幾年的時(shí)間才能顯現(xiàn)出生產(chǎn)問(wèn)題。其中一些問(wèn)題可以通過(guò)軟件來(lái)解決，比如智能手機(jī)的天線(xiàn)問(wèn)題，在技術(shù)被取代之前，這些問(wèn)題一直運(yùn)行良好。但隨著越來(lái)越多的芯片被用于工業(yè)和汽車(chē)應(yīng)用上，這種方法已經(jīng)不再適用。
Elder表示：“如果你能在檢查中或老化階段發(fā)現(xiàn)這些問(wèn)題，那么你就能將老化測(cè)試時(shí)間減少10％到20％�！薄斑@對(duì)制造商來(lái)說(shuō)是個(gè)很大的數(shù)字。
在實(shí)時(shí)情況下，通過(guò)查看自適應(yīng)測(cè)試時(shí)間的減少量，估測(cè)哪些測(cè)試沒(méi)有失敗。這樣就可以減少測(cè)試時(shí)間，并且你可以通過(guò)一個(gè)閉環(huán)系統(tǒng)將其添加回測(cè)試循環(huán)中，該系統(tǒng)可以包含從晶圓排序到最終測(cè)試的所有內(nèi)容。此外，重新測(cè)試也會(huì)增加我們的額外成本。但在損壞之前，你能重新測(cè)試多少次呢？其中一個(gè)案例：一個(gè)設(shè)備被重新測(cè)試了17次，直到最終通過(guò)測(cè)試�！� 可以看出，這對(duì)正在測(cè)試的設(shè)備來(lái)說(shuō)并不是好事，既昂貴又耗時(shí)。在晶圓廠(chǎng)，每分每秒都有成本。
更好的數(shù)據(jù)，更好的結(jié)果
“好的”數(shù)據(jù)在不同的市場(chǎng)可能意味著不同的東西，甚至常常在同一個(gè)市場(chǎng)中也是如此。數(shù)據(jù)之所以有用，是因?yàn)樗鼘?duì)特定的操作、過(guò)程或設(shè)備都有效。但需要大量的專(zhuān)業(yè)領(lǐng)域知識(shí)來(lái)做此決定。
yieldHUB首席執(zhí)行官John O’Donnell表示：“我們發(fā)現(xiàn)一些較小的公司并不是在每個(gè)領(lǐng)域都有專(zhuān)長(zhǎng)�！薄坝绕涫窃谄�(chē)領(lǐng)域，有些公司可能在設(shè)計(jì)方面很強(qiáng)大，但在測(cè)試方面就沒(méi)那么精通�！边@就給復(fù)雜的芯片設(shè)計(jì)帶來(lái)了一個(gè)問(wèn)題，久而久之，對(duì)芯片來(lái)說(shuō)，問(wèn)題將變得更加關(guān)鍵。但它也突顯了貫穿整個(gè)設(shè)計(jì)到制造鏈的一個(gè)挑戰(zhàn)，即確保參與其中的人都能理解其他工序的工作。
“有人可能會(huì)問(wèn)，‘我們真的需要把時(shí)間花在這塊嗎？重要的是團(tuán)隊(duì)中的每個(gè)人都必須看清這一點(diǎn)，” Donnell解釋到：“你可能是某個(gè)芯片特定部分的專(zhuān)家，而不是另一個(gè)部分的專(zhuān)家，所以你就需要合作和分析，還要在知識(shí)庫(kù)中進(jìn)行維護(hù)。這使得你對(duì)特定領(lǐng)域有了足夠的信心，你可以將你的知識(shí)添加到系統(tǒng)分析中，以此減少測(cè)試數(shù)量所需的成本。
確保數(shù)據(jù)質(zhì)量的另一種方法是對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行連續(xù)饋送。因此，與所有外部數(shù)據(jù)不同，其中一些數(shù)據(jù)可以在設(shè)備運(yùn)行時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
proteanTecs的首席執(zhí)行官Shai Cohen說(shuō)：“有了在線(xiàn)數(shù)據(jù)，你就能不斷提高性能，做出正確的決定�！薄霸诠ば蚝蛢�(nèi)存中你都可以權(quán)衡參數(shù)缺陷。這提供了很高的覆蓋率，但是你需要添加多維代理，這些代理可以通過(guò)機(jī)器學(xué)習(xí)進(jìn)行測(cè)量和處理�，F(xiàn)在你可以為特定的設(shè)計(jì)配備代理，重建數(shù)據(jù)，以便更好地了解正在發(fā)生的事情�！�
空空如也，垃圾滿(mǎn)天飛
傳感器不夠精確，不要緊。以波音737 MAX為例，故障傳感器可能是兩起墜機(jī)和一系列恐慌背后的罪魁禍?zhǔn)�。其中一個(gè)問(wèn)題是，數(shù)據(jù)需要更廣泛地共享，才能識(shí)別錯(cuò)誤，而系統(tǒng)供應(yīng)商往往將這些數(shù)據(jù)作為競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)加以保護(hù)。
＂在測(cè)試方面，我們一般遵循標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試去設(shè)計(jì)芯片，但原始設(shè)備制造商對(duì)此缺乏足夠的信任。“National Instruments運(yùn)輸部門(mén)首席解決方案經(jīng)理Doug Farrell表示。“他們不愿意分享數(shù)據(jù)，這種情況必須改變，因?yàn)槟悴豢赡茉谝患夜纠飺碛幸磺�。在自�?dòng)駕駛方面尤其如此，一級(jí)汽車(chē)制造商和原始設(shè)備制造商正在進(jìn)行激烈的競(jìng)爭(zhēng)�！�
所以我們只有不斷的測(cè)試傳感器，以確保數(shù)據(jù)的質(zhì)量。
Farrell說(shuō)：“對(duì)于操作車(chē)隊(duì)的人來(lái)說(shuō)，他們可以在換班結(jié)束時(shí)對(duì)傳感器進(jìn)行診斷，并對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)。”“好多公司跳過(guò)了中間步驟，直接從純粹的模擬轉(zhuǎn)向?qū)鞲衅靼惭b在汽車(chē)上，因此診斷是必不可少的�！�
為防止將來(lái)出現(xiàn)問(wèn)題，數(shù)據(jù)本身也要存儲(chǔ)。
PDF的Ciplickas說(shuō)：“我們?cè)噲D避免的是無(wú)聲數(shù)據(jù)的破壞�！薄爱�(dāng)這種事發(fā)生的時(shí)候，你無(wú)法預(yù)測(cè)�！�
對(duì)于安全關(guān)鍵型應(yīng)用程序，結(jié)果可能比這糟糕得多�，F(xiàn)在，這些設(shè)備的功能帶來(lái)了責(zé)任，而數(shù)據(jù)是確定哪里出了問(wèn)題以及原因的最佳方法。
OptimalPlus電子部門(mén)總經(jīng)理Uzi Baruch表示：“汽車(chē)行業(yè)與半導(dǎo)體行業(yè)的根本區(qū)別在于，測(cè)試只是汽車(chē)行業(yè)的一個(gè)載體�！薄斑@比你通常在半導(dǎo)體行業(yè)看到的要多，不僅限于電子產(chǎn)品，這是一條完整的裝配線(xiàn)，有多個(gè)接觸點(diǎn)�！�
設(shè)計(jì)檢查
檢查在高級(jí)節(jié)點(diǎn)和某些類(lèi)型的高級(jí)封裝中變得越來(lái)越困難。因此，人們要在更多的地方安裝更多的傳感器——無(wú)論是在設(shè)備中還是在封裝中——并要使這些傳感器更小、更快、功耗更低。
CyberOptics首席執(zhí)行官Subodh Kulkarni表示：“目前晶圓廠(chǎng)和封測(cè)代工廠(chǎng)已經(jīng)在進(jìn)行抽樣檢測(cè)�！薄艾F(xiàn)在我們正在對(duì)封裝進(jìn)行功能檢查。問(wèn)題是在我們進(jìn)行100％的檢查之前會(huì)有多少放射性塵埃。但由于封裝太貴了，有必要對(duì)其進(jìn)行合理的成本檢查。”
隨著新材料的引入和新結(jié)構(gòu)的加入，這種檢查會(huì)變得更加困難。此外，由于漫射光不同于其他物質(zhì)，所以不同的材料需要不同的檢查技術(shù)。Kulkarni指出，這兩種方法都需要重新校準(zhǔn)光學(xué)攝像機(jī)等檢查設(shè)備。
他說(shuō)：“這讓先進(jìn)的封裝檢驗(yàn)和模塊檢驗(yàn)變得越來(lái)越困難，尤其像HBM�！薄霸谶^(guò)去，2D檢查就足夠了�，F(xiàn)在你需要對(duì)存儲(chǔ)模塊進(jìn)行3D光學(xué)檢查�！�
這將花費(fèi)更多的時(shí)間，生成更多需要分析的數(shù)據(jù)。
結(jié)論
在制造業(yè)中，將傳感器數(shù)據(jù)和機(jī)器學(xué)習(xí)結(jié)合使用的方法剛剛興起，但是提高質(zhì)量和減少測(cè)試時(shí)間的機(jī)會(huì)是巨大的。這也有助于減少冗余的設(shè)計(jì)，這在部件、功率和重量方面都是難能可貴的。
proteanTecs首席商務(wù)官Raanan Gewirtzman表示：“我們的目標(biāo)是終止增長(zhǎng)的冗余�！睂�(duì)于ISO 26262規(guī)定尤其重要，因?yàn)樗枰欢ǔ潭鹊娜哂�。但我們可以通過(guò)增加更好的測(cè)量代理來(lái)解決�！�
這需要用一種完全不同的方式來(lái)看待和使用數(shù)據(jù)，但是以更少的成本提供更好的覆蓋范圍的前景得到了多方的關(guān)注，最大的問(wèn)題是這種方法能擴(kuò)展到什么程度。
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